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大规模晶体管级电路后仿真中的问题与挑战

创建时间:  2021/12/13  吴影清   浏览次数:   返回

报告主题:

大规模晶体管级电路后仿真中的问题与挑战


报告人:

周振亚

北京华大九天软件公司仿真产品部高级研发总监


报告时间:

2021/12/14 09:30-11:00 (GMT+08:00)中国标准时间-北京


邀请人:

杜鑫

上海大学机电工程与自动化学院副教授


参加方式:

地点:上海大学宝山校区东区机自大楼355

线上:腾讯会议ID:730-538-135

会议链接:https://meeting.tencent.com/dm/VyVyy5C0HABN


报告摘要:

随着集成电路制造工艺的发展,芯片的特征值尺寸不断地缩小,寄生器件对电路性能的影响也变得越也来越显著,电路后仿真成为集成电路设计验证不可缺少的关键技术。但是集成电路规模的不断增大,寄生器件数目急剧膨胀,电路后仿真中求解非线性代数方程组所需要的时间大幅增加,导致电路验证时间越来越长,影响集成电路的设计周期和产品交付时间,报告主要阐述电路仿真中需要解决的数学问题和目前遇到的挑战。


资助来源:

国家自然科学基金:大规模动态系统平衡截断模型降阶中的若干问题研究(61873336)

国家外专局高端外专项目:大规模集成电路系统建模与模型降阶(G2021013008L)

国家外专局“111引智基地”(复杂网络化系统智能测控及应用学科创新引智基地)


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